19 | 04 | 2018
Главное меню
Смотри
replace_in_text_segment($text); echo $text; ?>
Статистика
Пользователи : 1
Статьи : 3589
Просмотры материалов : 8463439

Коллеги
Посетители
Рейтинг@Mail.ru
Советую
Online
  • [Bot]
  • [Yandex]
Сейчас на сайте:
  • 74 гостей
  • 2 роботов
Новые пользователи:
  • Administrator
Всего пользователей: 1
RSS
Подписка на новости
Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА PDF Печать E-mail
Автор: Administrator   
11.08.2010 09:51

Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА

В связи с широким применением в промышленности микропроцессоров, БИС и аналоговых,интегральных схем повышенной сложности возникли проблемы производственного характера, связанные с резким увеличением требуемого объема контрольно-диагностических операций, составляющих около 50% общей трудоемкости изготовления изделий. Существующие системы функционального (структурного) тестирования (типа УТК-З, УТК-6, КОДИАК, ТЕСТ-7901, Стенд-ЭВМ и т. п.) в условиях серийного производства РЭА обладают недостаточными технико-экономическими показателями, что обусловлено следующими причинами: большой трудоемкостью процесса уточнения места возникновения дефекта, особенно при кратных и нелогических неисправностях; возможностью возникновения вторичных дефектов из-за включения неисправного объекта под рабочее напряжение; сложностью внесения изменений в массивы тестовых наборов при необходимости корректировок схемной и технологической документации на контролируемые устройства.
Для ликвидации отмеченных недостатков в последние годы в нашей стране и за рубежом возникло новое направление в области контроля и диагностирования изделий РЭА — поэлементное (внутрисхемное) диагностирование аналоговых, цифровых и гибридных узлов РЭА. Суть метода поэлементного диагностирования заключается в проведении последовательности проверок каждого компонента или фрагмента схемы с учетом обеспечения условий исключения взаимного влияния электрорадиоэлементов (ЭРЭ) и неповреждающего характера тестовых воздействий.
Метод поэлементного диагностирования не заменяет, но существенно дополняет метод структурного диагностирования. Если применять системы поэлементного и структурного диагностирования в одном технологическом процессе изготовления РЭА, то они, дополняя друг друга, позволят увеличить выпуск и улучшить качество продукции, создадут экономию капитальных вложений и трудовых затрат.
В предлагаемой книге авторы предприняли попытку обобщить отечественный и зарубежный опыт проектирования и внедрения систем поэлементного диагностирования (СПД), изложить соответствующие теоретические вопросы, привести конкретные примеры аппаратурной и программной реализации различных технических решений, а также выработать рекомендации по оптимальному применению СПД в сочетании с другими типами систем диагностирования.

СКАЧАТЬ

Обновлено 22.02.2011 06:19
 
Для тебя
Читай
Товарищи
Друзья